返回列表页
白光干涉薄膜厚度测量仪Delta
白光干涉薄膜厚度测量仪Delta
白光干涉薄膜厚度测量仪Delta小.jpg
1 / 3

产品特点

快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高

应用案例

应用领域                        


半导体(SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS,SOI等)、LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等) 、LED (SiO2、光刻胶ITO等)、触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等) 、汽车(防雾层、Hard Coating DLC等)、医学(聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等)

技术参数

型号

Delta-VIS

Delta-DUV

Delta-NIR

波长范围

380-1050nm

190-1100nm

900-1700nm

厚度范围

50nm-40um

1nm-30um

10um-3mm

准确度1

2nm

1nm

10nm

精度

0.2nm

0.2nm

3nm

入射角

90°

90°

90°

样品材料

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

测量模式

反射/透射

反射/透射

反射/透射

光斑尺寸2

2mm

2mm

2mm

是否能在线

扫描选择

XY可选

XY可选

XY可选

注:1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。

       2. 可选微光斑附件。


尊敬的客户您好,

非常感谢您访问接触角测量仪,水滴角测试仪,光学接触角测量仪,表面张力仪,界面张力仪,全自动表界面张力仪|6766澳门赌场官方网站,如果您有任何需求或者咨询都可以留言告诉我们,我们的客服将会尽快给您回复。